IMM-200

Repetarea excelenței

Protejați-vă și creșteți-vă profitul cu monitorizarea precisă a ratei și grosimii

IMM-200 este un monitor de depunere construit cu tehnologia ModeLock pentru a maximiza reproductibilitatea și uniformitatea cu cea mai mare precizie a grosimii, cea mai bună rezoluție de măsurare și cel mai mic zgomot de depunere.

Cu oscilatorul încorporat, IMM-200 poate fi integrat cu ușurință într-un sistem Ethernet cu hardware și amprentă minime. Acest monitor de măsurare puternic și precis va aduce cu siguranță un nou nivel de performanță procesului dumneavoastră.

Caracteristici

  • Tehnologia INFICON ModeLock oferă cea mai lungă durată de viață a cristalului și asigură cea mai stabilă rată de rezoluție și măsurarea grosimii disponibile, chiar și la rate foarte mici.
  • Maximizează randamentul cu cea mai bună măsurare a grosimii QCM posibilă
  • Monitorizare rată și grosime pe un singur canal, fără funcții suplimentare inutile, pentru a minimiza costurile
  • ±0,0035 Hz pe o eșantionare de 100 ms
  • Comunicații Ethernet pentru integrare perfectă
  • Dimensiune compactă pentru a minimiza costurile de integrare prin economisirea spațiului necesar instrumentelor
  • Asistență expertă pentru aplicații, capabilă să discute nevoile unice ale aplicațiilor și să ofere un suport mai mare decât concurența
  • Conform cu RoHS

Aplicații tipice

  • Producția de semiconductori
    Aplicații OLED
Intrări senzori 1
Interval frecvență de măsurare 6,0 până la 4,5 MHz (fix)
Rezoluție rată și grosime 0.0042 Å (new crystal); 0.0076 Å (crystal @ 4.5 MHz)
Eșantionare la 100 ms pentru densitate material = 1,0, Z-Ratio = 1,0
Tip comunicație Ethernet, 1 mufă RJ45

IMM-200 Brochure

IMM-200 Operating Manual (English)

IMM-200 Communication Software

PDMAT SemiQCM Datasheet

Afișaj

Afișaj

INFICON acceptă tehnologie de vârf și permite produse de afișare de cea mai înaltă calitate

IDM și turnătorie de semiconductori

Senzori adaptați pentru a susține o gamă largă de aplicații, asigurând siguranța produsului, randament crescut și productivitate maximă